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会议通知:“2017美国Headwall高光谱成像光谱仪的测量应用案例 与实践”用户交流会

发布时间:2017-04-05 12:03:00 浏览次数:178次

        随着高光谱遥感技术在近几年的飞速发展,高光谱成像技术在精准农业、生态环保、水环境监测、矿物勘察、食品检测、生物与医药等领域也同时得到了得到了长足的发展与进步;美国Headwall公司研发生产的高光谱成像光谱仪因其优异的性能与实用性,也在这些领域内取得了广泛的应用及客户的一致好评。

       

        值此高光谱遥感技术在各领域蓬勃发展之契机,我公司荣幸地邀请到美国Headwall公司总裁兼CEO Dr. David Bannon,就“Headwall高光谱成像光谱仪的测量应用案例与实践”作专题介绍,与您一起分享Headwall高光谱成像光谱仪在地面及机载等使用中的案例和方法。与会期间,您可就在实际应用中所遇到的相关问题与Dr. David Bannon 进行探讨,与会同时并可为您提供结识国内同行与交流工作进展的契机与场所。

 

[本次会议安排如下]

1.    时间:20170420日上午930-12:00;

2.    地点:丽都维景酒店(北京市朝阳区将台路6号)

3. 报名方法:参会人员劳烦填写参会回执,并发送至xushengyan@goldway.com.cn

 

参会回执下载地址:UserFiles/file/2017-04-05/参会回执-2017_4美国Headwall用户交流会.doc

 

  

     在此,诚挚地邀请您参加北京欧普特科技有限公司主办的“美国Headwall高光谱成像光谱仪测量应用案例与实践”会议。敬候您的莅临!

 

[会议联系人] 徐胜艳 010-84562550/13811096323 xushengyan@goldway.com.cn


 

主办单位:  北京欧普特科技有限公司